Akıllı nano ölçekli karektarizasyonlu Nano-inXider; SMART tasarımı ile doğrudan numunelerden doğru ve yüksek dinamik aralık ölçümleri ile basit ve hızlı sonuçlar elde etmenizi sağlayan düşük maliyetli bir teknolojiye sahiptir.
Numunenizin nano yapısı hakkında atomik ölçekten nano ölçeğe kadar eşzamanlı veri elde etmenizi sağlayarak araştırmanızı hızlandırır.
Doğru ve yüksek dinamik aralık ölçümü
Nano-inXider, numuneden saçılan düşük yoğunluklu sinyalle birlikte numuneden iletilen yoğun doğrudan ışını da ölçerek yüksek sinyal-gürültü verilerini elde etmenize yardımcı olur.
Yenilikçi ışın durdurmasız veri toplama (innovative beamstop-less data acquisition) ile elde edilen doğrudan ışın ölçümü, otomatik veri işlemeyi ve mutlak yoğunlukta çok yüksek bir doğrulukla görüntülemeyi mümkün kılar.
Clean Beam teknolojisi ile eş zamanlı düşük yoğunluklu sinyal algılanması sağlanabilmektedir.
Aynı anda atomdan nano ölçeğe
SAXS ve WAXS ölçümünü tekrar etmeden, bir pozlama içinde iki ölçüm elde edebilirsiniz.
Nano-inXider, atomik ölçek bilgisini ve nanoyapıyı aynı anda tek bir pozlama içinde algılamak için akıllı bir çift dedektör tasarımına sahiptir. Büyük karakteristik boyutları ölçmek için numuneden dedektöre uzun mesafe, SAXS'de az yer kaplayan dikey bir tasarımla elde edilir.